近日,南京邮电大学氧化镓半导体创新中心(IC-GAO)唐为华教授团队基于MOCVD技术系统分析了氧/镓前驱物摩尔比(Ⅵ/Ⅲ ratio)生长参数对κ-Ga2O3薄膜外延质量的影响。相关成果以“Effect of the VI/III ratio on ...