在材料学和微纳器件等领域，微观结构对宏观性能起到关键作用。然而，在研究过程中，要对关键性微观区域的原位性能研究却困难重重。最常遇到的情况是：在SEM上找到了感兴趣的微区域，当把样品转移到AFM等设备上时，又需要很长的时间再找回相应的微区域 ...

SEM是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的。 TEM是聚焦电子束投射到非常薄的样品上，透过样品的透射电子束或衍射电子束所形成的图像来分析样品内部的微观组织结构。 TEM常用于研究纳米材料的结晶情况，观察纳米粒子的 ...

Phenom AFM-SEM 原子力扫描电镜一体机能够提供多种测量模式，包括机械性能、相关性分析、磁性能、电机械性能和电性能等，覆盖了从亚纳米级地形测量到局部弹性、硬度、磁畴成像、压电畴成像、导电性映射、局部表面电势映射以及局部电性能等多个领域。

在先进材料表征领域，关联显微技术正经历革命性发展。本研究突破传统样本制备限制，首次实现原子力显微镜（AFM）与透射电子显微镜（TEM）的直接协同分析。通过创新性测量策略，成功在两种典型TEM样本类型上完成无二次制备的AFM观测，为多尺度表征提供了 ...

在众多研究领域，原位，多模态表征技术的需求日益增长。美国Quantum Design公司研发的AFM/SEM二合一显微镜FusionScope，将原子力 ...

扫描电子显微镜（SEM）是一种在学术界和工业界都非常流行的技术，用于分析各种材料的表面形貌。它要求在非导电样品上沉积像金这样的金属薄膜，以防电荷积聚影响成像效果。但是，金膜溅射沿垂直方向的不连续和自身纳米晶粒结构，导致SEM图像不能提供沿 ...